물질 내부 미세구조와
원자단위 결함을
동시에 관찰할 수 있는
새로운 개념의 X선 현미경
기술이 국내 연구진에 의해
개발됐습니다.

포스텍은 신소재공학과
제정호 교수팀이
방사광 X선을 이용한
새로운 현미경 기술을
세계 최초로 개발했다고
밝혔습니다.

이 기술은 물질 내부의
나노 단위의 미세 구조를
비파괴적으로 볼 수 있고
원자 배열의 어긋남 등을
동시에 관찰할 수 있어
X선 현미경 기술에 획기적인
진전을 가져온 것으로
평가되고 있습니다.

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